已知幾種方法來檢查蝸輪以評估待不采用的齧合。現有技術的這些方法提供了將螺絲安（ān）裝在套（tào）件中並使用傳統儀器來分析該套件（jiàn）的性能和噪音級別。很明顯，因為需要在裝配線上安（ān）裝螺絲並觀察該螺絲是否通過了測試，所以現有技術的這些檢查方法很（hěn）長、麻煩且複雜。然後，將該（gāi）螺絲從裝配（pèi）線上取下並送到生產部門或根據測試結果而不采用。而且，這（zhè）些類型的檢查不是非常可靠，也不（bú）能保證螺絲的良好質量。
技術實現（xiàn）要素
本發明的目（mù）的在於通過（guò）公開一種實用（yòng）、高效、多功能、可靠（kào）、價格低廉以及使用簡單的蝸輪的檢查方法來消除現有技術的缺陷。本發明的這（zhè）些目的通過獨立權利要求1的特征來實現。本發明的有利實施（shī）例通過本發明的從屬權利要求來體現（xiàn）。本發明的方法允許（xǔ）分（fèn）析齒輪的表麵特征，檢查是（shì）否符合用戶預先設定的公差極限值，以最大限度地提高性能並將齒輪產生的噪音降至最低（dī）。本發明的方（fāng）法允許在（zài）螺釘被插（chā）入組裝線之前進（jìn）行選擇，從而優化生產循環和保證更好（hǎo）的質量（liàng）。用於螺（luó）釘表麵分析的數據可以使用電子測（cè）量係統，其用探針與漸開線齒廓和測試螺釘的螺（luó）旋齒廓（kuò）接觸來進行掃描，以笛卡爾形（xíng）式提供齒廓（kuò）表麵的一係列點被適當地過濾和處理以（yǐ）獲得測量結果準確和高保真度的蝸輪的真實齒（chǐ）廓。附圖說明本發明的附加特征將通過下（xià）麵的附圖的詳細描述（shù）而清楚，其僅用於說明而非限製性。其中：圖1表示用高斯低通濾波（bō）器獲（huò）得的漸開線的主要齒廓，圖1A表示根據（jù）圖1的漸開線的主要齒廓計算的中線，圖2表示用高斯低通（tōng）濾波器獲得的螺（luó）旋的主要齒廓，圖2A表示根據圖2的螺旋線的主要齒廓計算的中線，圖（tú）3表示用高斯高通濾波器獲得的漸開線的表麵分析齒廓，圖4表示（shì）用高斯高通濾波器獲得的螺旋的表麵分析齒廓，圖5為用7組蝸杆螺絲實驗測量得到的表，圖6為概略示出根據本發明的（de）方法的框（kuàng）圖。
具體實施方式
本發明的方法提供了（le）分析（xī）四種不同蝸杆1的齒（chǐ）廓（kuò）。該待分析的齒廓為：實（shí）際齒廓(PR)，測量的齒（chǐ）廓(PM)主要齒廓(PP)表麵分（fèn）析齒廓(SA)實際齒廓實際（jì）齒廓（kuò）(PR)通過測量機2來識別（bié），考慮包含齒輪軸1的平麵。實際齒廓(PR)由齒輪的外側麵與包含齒輪軸（zhóu）線的平麵（miàn）的交點給（gěi）出。測量的齒廓在識別實（shí）際齒廓(PR)後，控針3掃描實際齒廓(PR)以獲得測量的齒（chǐ）廓(PM)。因此根據探針的（de）半徑對實際齒（chǐ）廓(PR)進行機械過濾。測量的齒廓(PM)表示與理論齒廓的偏差。為了說明這些目的，測量的（de）齒廓(PM)通過具有MDM漸開線的蝸輪（lún）1、使用帶0.5毫米直徑的切割工具的探頭、收集在螺絲的漸開線和（hé）螺旋部分上最多3000點的（de）測量軟件來獲得。根據本發明的方法的輸入數據，即，測（cè）量的齒廓(PM)不是完美的虛擬幾何形狀(在這種具體的情況下，圓和螺旋（xuán）的漸開線)，而是（shì）沿著基於蝸輪結構數據的運動（dòng）軌跡（jì）、通過探針（zhēn）的傳感器（qì）獲得的偏離完美的虛擬用（yòng）幾何形狀。主要齒廓主要（yào）齒廓(PP)是通過使用具有（yǒu）截止頻率(fs)的低通濾波器4過濾測量的齒廓(PM)而獲得的（de），該截止頻率(fs)與下限波長(λS)成（chéng）反比。
因此，低通濾波器（qì）允許截止頻率(Fs)以下的頻率通過並去除低於下限波長(λS)的波長（zhǎng），因為它們不相關（guān）。主要齒廓是（shì）針（zhēn）對掃描測量的齒廓(PM)長度（dù）的全部時間計算的（de）。低通濾波器4可以（yǐ）是高斯濾波器。在高斯濾（lǜ）波器中，權重在空間域(x)中的定義由以下方程式得（dé）出：其中，λ為與濾波器（qì）的截止頻率成反（fǎn）比的波長。為了說明的目（mù）的，下限波長λ＝λS＝7被選（xuǎn）擇用於低通濾波器。圖1表示用具有下限波長λ＝λS＝7的高斯低通濾波器獲得的漸開線的主要齒廓。圖1A表示根（gēn）據圖1的漸開線的主要齒廓計算的中線。圖2表（biǎo）示用高斯低通濾波器獲得的螺旋的主要（yào）齒廓。圖2A表示在圖（tú）2螺旋的主要齒廓計（jì）算的中線。表麵分析齒廓表麵分析齒廓(SA)通過使用具有與上（shàng）限（xiàn）波長(λC)成反比的（de）截（jié）止頻率(fc)的高通濾波器5過濾主（zhǔ）要齒（chǐ）廓(PP)而（ér）獲得。因（yīn）此高（gāo）通濾波器可（kě）以使高於截止頻（pín）率(fc)的頻率通過並消除高於上限波長λC的波長，因為它們不相關。表麵分析齒廓(SA)計算的（de）長度等於約80％的測量的（de）齒廓的掃描長度。高通濾波器5可以是像低（dī）通濾波（bō）器那樣的（de）高斯濾波器。
在高（gāo）通濾波器5的（de）情況下，上限（xiàn）波（bō）長λC可（kě）以由用戶設置。有利地，上限波長λC可（kě）以由探針掃描的點數除以10而得出，即，有利地（dì），掃描的點數可以高於2000；在這個具體的例子中，如（rú）果（guǒ）掃描（miáo）的點數為3000，那麽上限波長λC＝300。圖3和圖4分別表示通過具有上限波長λ＝λC＝300的高斯高通濾波器而獲得的漸開線和螺（luó）旋的表麵分析齒廓（kuò）(SA)，其中示出了以已知的方式用計算器6計算的（de）中線(LM)。表麵分析齒廓(SA)用於計算：-第一誤差（chà）二次平均參數(SAa)；-第二二（èr）次誤差參數(SAq)和-第三峰值平均參數(SAp)。誤差二次均值(SAa)從以（yǐ）下方程式中獲（huò）得（dé）：其中，xi為(SA)齒廓的點與SA齒廓的中線的絕對偏差；以及np為評估分析中所考慮的點數。通常，在(SA)齒廓中，所考慮的點（diǎn）數等於掃描的點（diǎn）數的約80％。因（yīn）此，在這（zhè）個具體的情況下，如果掃（sǎo）描（miáo）的點數是3000，np＝2400二次誤差(SAq)從以下方程式中獲得：峰值平（píng）均值(SAp)從以下方程（chéng）式中獲得：其中，pi是（shì）最（zuì）高點，其與SA齒廓的中線的距（jù）離高於至少四個相鄰點（diǎn）的距離。這（zhè）三個參數(SAa；SAq；SAp)用計算器6算出（chū）。在計算出這些參數(SAa；SAq；SAp)後，所述參數的每（měi）一個與由用戶預設的相應的閾值(TSa；TSq；TSp)進行比較。這樣（yàng）的比較是由比（bǐ）較器7執行的。如果所述參數(SAa；SAq；SAp)之（zhī）一高於其閾值(TSa；TSq；TSp)，則必須不采用（yòng）蝸輪（lún）1。閾（yù）值(TSa；TSq；TSp)由用戶根據待分析的蝸（wō）輪的類型進行實驗測試而計算出（chū）。圖5表示七（qī）組蝸輪(A、B、C、F、D、E、G)的測試結果。使用傳統儀器測量安裝在套（tào）件上的螺（luó）釘的標記。
而（ér）且，計（jì）算出在螺紋的每一側的以下參數（shù）：誤差算術平均值(SAa)，二次誤差(SAq)和峰值平均值(SAp)。如圖5所示，C組和（hé）F組的（de）螺釘（dìng）都有（yǒu）不可接受的標記值，B組的螺（luó）釘具有邊界標記值；而A、D、E和G組的螺釘具有完全可以接受的非常低的（de）標記值。這些結果完全反映在（zài）用本發明的方法計算的參數（shù）值(SAa；SAq；SAp)。因此，根（gēn）據所述的實驗結果，可以發現三個（gè）參數(SAa；SAq；SAp)的閾（yù）值(TSa；TSq；TSp)。
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